簡要描述：

日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50
主要特點(diǎn)
結(jié)合基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能和自動高速載物臺的系統(tǒng)
以過去無法想象的速度測量點(diǎn)的膜厚和折射率
兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何測量點(diǎn)

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日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50

主要特點(diǎn)

結(jié)合基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能和自動高速載物臺的系統(tǒng)
以過去無法想象的速度測量點(diǎn)的膜厚和折射率
兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何測量點(diǎn)

F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過去無法想象的速度測量點(diǎn)的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測量點(diǎn)。
還有與大型玻璃基板兼容的可選產(chǎn)品。

主要應(yīng)用

半導(dǎo)體平板薄膜太陽能電池

抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅、拋光硅片、化合物半導(dǎo)體襯底、?T襯底等。

單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR膜、
各種光學(xué)膜等。

CdTe、CIGS、非晶硅等

砷化鋁鎵（AlGaAs）、磷化鎵（GaP）等

測量示例

薄膜厚度分析 FIL Mapper 軟件具有強(qiáng)大而*的薄膜厚度分析算法和可以讓您輕松測量點(diǎn)的功能。

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